Rastrovací elektronové mikroskopy ZEISS pro průmysl:

Odhalte neviditelné.

ZEISS SEM pro průmysl: Portfolio rastrovací (skenovací) elektronové mikroskopie

ZEISS nabízí široké portfolio rastrovacích elektronových mikroskopů pro nejrůznější aplikace v oblasti průmyslové kontroly kvality a analýzy poruch.

Více informací, více možností. SEM analýzy pro průmysl.

Rastrovací (skenovací) elektronová mikroskopie (SEM) se používá pro mimořádně přesnou analýzu mikrostruktury součástí s vynikající hloubkou ostrosti a vyšším rozlišením. Tato metoda vytváří obrazové snímky povrchu vzorku s velmi velkým zvětšením. Na SEM lze navíc provádět energiově disperzní rentgenovou spektroskopii (EDS), která umožňuje stanovit chemické složení materiálů.

Řešení pro splnění vašich požadavků

Řada rastrovacích elektronových mikroskopů (SEM) ZEISS

	Řada ZEISS EVO Standardní systém pro vstupní úroveň	Řada ZEISS Sigma Pokročilý systém	Řada ZEISS GeminiSEM Špičkový systém	Řada ZEISS Crossbeam Špičkový systém s 3D funkcemi
Rozlišení	při 1 kV: 9 nm	při 1 kV: 1,3 nm	při 1 kV: 0,8 nm	při 1 kV: 1,4 nm
Systém	Konvenční rastrovací elektronový mikroskop pro náročné analytické pracovní postupy EDS se snadno použitelnými softwarovými funkcemi	Emisní rastrovací elektronový mikroskop pro vysoce kvalitní zobrazování a pokročilou analytickou mikroskopii	Emisní rastrovací elektronový mikroskop pro nejvyšší požadavky na zobrazování na subnanometrové úrovni, analytiku a flexibilitu vzorků	Emisní rastrovací elektronový mikroskop pro vysoce výkonnou 3D analýzu a přípravu vzorků a využitím femtosekundového laseru
Výhody	Vhodný pro rutinní aplikace Dvojitý kondenzátor pro optimální zpětnou vazbu materiálu při rutinní EDS analýze Flexibilní, výkonný a cenově dostupný Inteligentní alternativa ke stolním SEM pro materiálovou analýzu Vysoká výkonnost a rychlé výsledky	Přesné reprodukovatelné výsledky z každého vzorku Rychlé a snadné nastavení testu Technologie ZEISS Gemini Flexibilní detekce pro jasné obrazy Sigma 560 má nejlepší geometrii EDS ve své třídě	Velmi vysoká kvalita obrazu a všestrannost Pokročilé režimy zobrazování Vysoce účinná detekce, vynikající analytika Technologie ZEISS Gemini Široký výběr detektorů pro komplexní škálu aplikací	FIB-SEM analýza v nejlepším 3D rozlišení Systém iontového a elektronového paprsku Nástroj pro přípravu vzorků Výhoda přídavného femtosekundového laseru EDS, EBSD, WDS, SIMS a další na vyžádání Maximální vhled do vzorků díky cílené analýze ve třetím rozměru
	ZEISS EVO	ZEISS Sigma	ZEISS GeminiSEM	ZEISS Crossbeam

ZEISS SEM: Mikroskopická řešení pro průmysl

Vývoj optiky ZEISS Gemini
Rychlá 3D analýza poruch. Korelační řešení pracovního postupu od společnosti ZEISS.
Průřezová analýza materiálu v pouhých čtyřech krocích.
Snadná lokalizace a navigace na SEM: ZEISS ZEN Connect

Blokovaný obsah třetí strany

Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.

Technologie ZEISS Gemini pro průmysl. ZEISS nabízí správné řešení pro každou aplikaci. Podívejte se na video, kde se dozvíte o vývoji a výhodách technologie Gemini.

Vývoj optiky ZEISS Gemini
Blokovaný obsah třetí strany

Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.

Podívejte se na video o našem řešení korelačního pracovního postupu. Zjistěte, jak snadno lze s řešeními ZEISS používat data napříč technologiemi a jak dosáhnout spolehlivých a efektivních výsledků.

Rychlá 3D analýza poruch. Korelační řešení pracovního postupu od společnosti ZEISS.
Blokovaný obsah třetí strany

Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.

Jak vypadají vaše makroskopické struktury? Jak najdete oblasti zájmu ve velkém vzorku? Jak se k těmto oblastem zájmu (ROI) dostanete? A jak je dále analyzujete?

Průřezová analýza materiálu v pouhých čtyřech krocích.
Blokovaný obsah třetí strany

Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.

Organizujte, vizualizujte a dávejte do souvislosti různé mikroskopické snímky a data stejného vzorku, vše na jednom místě. Korelaci mezi snímky v různých měřítkách lze překrýt v pracovním prostoru a použít pro snadnou navigaci.

Snadná lokalizace a navigace na SEM: ZEISS ZEN Connect
Blokovaný obsah třetí strany

Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.

Kontrolou neporušených vzorků lze zjistit změny ve složení, které ovlivňují kvalitu a životnost baterií. Mikroskopická řešení ZEISS pro průmysl nabízejí nedestruktivní 3D analýzy s vysokým rozlišením a korelační analýzy, které jsou důležité pro kontrolu kvality.

Příprava a analýza polovodičových baterií se zařízeními ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam, ZEISS Orion

ZEISS Efficient Navigation

ZEISS ZEN core je váš software pro propojenou mikroskopii a analýzu obrazu. Tento software vám zobrazí kompletní přehled: Poskytuje jedno uživatelské rozhraní pro výsledky všech mikroskopů. Automatizované pracovní postupy stiskem tlačítka zajišťují rychlé a spolehlivé výsledky.

Zaměřeno na korelační mikroskopii.
ZEISS ZEN Connect.

Uspořádejte a vizualizujte různé mikroskopické snímky a kombinujte multimodální data – vše na jednom místě. Tato otevřená platforma umožňuje rychlý přechod od obecných přehledů k pokročilému zobrazování, a to i při použití technologií třetích stran. S ZEN Connect můžete všechna obrazová data seřadit, překrýt a dávat do souvislosti. Díky tomu můžete snadno přenášet vzorky a obrazová data mezi různými světelnými a elektronovými mikroskopy.

ZEISS ZEN Connect umožňuje
korelační zobrazení obrazu z různých typů mikroskopů (např. světelných a elektronových) v uceleném přehledu. To je velmi výhodné pro detailní zkoumání velkých přehledových snímků, např. bateriových článků. Modul umožňuje import a korelaci dat, jako jsou například výsledky EDS. Kompatibilní s předními výrobci EDS systémů.
Zaměřeno na korelační mikroskopii.
ZEISS ZEN Connect.

ZEN Connect vám poskytne maximum relevantních dat s minimální pracností: Všechny oblasti zájmu jsou po jednorázovém zarovnání automaticky vyhledány a zobrazeny v kontextu. Můžete také uspořádat data z různých modalit. Všechny obrazy získané pomocí ZEN Connect lze uložit do přehledné databáze. Každému souboru obrazu je automaticky přidělen individuálně předdefinovaný název. Každý překryvný obraz a k němu připojený soubor dat lze snadno najít. Uživatelé mohou navíc vyhledávat podle typu mikroskopu pomocí nové funkce filtru.

Vizualizovaný sběr dat:
podporuje import a připojení jiných než obrazových dat, jako jsou reporty a popisy (pdf, pptx, xlsx, docx atd.).

Snadná navigace:
kliknutím na přehledový obraz můžete prozkoumat nebo přehodnotit všechny ROI v překryvu celého obrazu.

Inteligentnější. Větší úspora času.
ZEISS ZEN Intellesis.

Pomocí zavedených technik strojového učení, jako je klasifikace pixelů nebo hluboké učení, mohou i méně zkušení uživatelé získat spolehlivé a reprodukovatelné výsledky segmentace se softwarem ZEISS ZEN Intellesis. Stačí načíst obraz, definovat třídy, označit pixely, natrénovat model a provést segmentaci.

Stačí jednou software natrénovat na několika málo obrazech, aby mohl automaticky segmentovat dávky stovek obrazů. To nejen šetří čas, ale také snižuje možnost odchylek způsobených uživatelem. Všechny časově náročné segmentační kroky na mnoha podobných snímcích jsou zpracovány výkonnými algoritmy strojového učení.

ZEISS ZEN Intellesis
umožňuje identifikaci částic pomocí strojového učení a zajišťuje vyšší přesnost identifikace částic, segmentaci učícího se obrazu a klasifikaci objektů.

Intellesis klasifikace objektů
se používá k další klasifikaci segmentovaných částic a jejich roztřídění do subtypů. Tyto informace pak lze použít k počítání částic podle typu.
Inteligentnější. Větší úspora času.
ZEISS ZEN Intellesis.

ZEN Intellesis podporuje snadnou segmentaci vícerozměrných obrazů z mnoha různých zobrazovacích zdrojů, včetně širokoúhlé, superrozlišovací, fluorescenční, bezznačkové, konfokální, světelné, elektronové a rentgenové mikroskopie. Vyhodnocovací moduly ZEN potom umožňují automatické vytváření reportů a měření podle průmyslových standardů.

ZEN Intellesis používá inovativní přístup, pokud jde o klasifikaci podle typu po segmentaci. Namísto prohlížení jednotlivých pixelů, jak by to dělalo typické řešení strojového učení, jeho model klasifikace objektů používá více než 50 měřených vlastností na objekt k jejich automatickému rozlišení a klasifikaci. Tento klasifikační proces na základě tabulkových dat je mnohem rychlejší než segmentace prováděná speciálně trénovanými hlubokými neuronovými sítěmi.

Příklad pro tloušťku vrstvy:
Překrytí vrstev solárních článků CIGS průřezem FIB: výsledek z detektoru Crossbeam 550 InLens (vpravo) a po segmentaci pomocí strojového učení ZEN Intellesis (vlevo).

Používáme ZEISS ZEN Intellesis pro automatickou segmentaci a lepší analýzu složek druhé fáze u dvoufázové oceli. Tento software mění způsob, jakým charakterizujeme materiály, a přináší rychlejší a spolehlivější výsledky.

Tým ArcelorMittal Tubarão Zjistěte více o příběhu zákazníka v brožuře SEM.