
ZEISS GeminiSEM
Nejvyšší flexibilita vzorku ve své třídě mikroskopůProzkoumejte neznámé pomocí tohoto rastrovacího elektronového mikroskopu s emisním polem, který splňuje nejvyšší požadavky na subnanometrové zobrazování, analytiku a flexibilitu vzorků.Systém umožňuje vysoce výkonnou analýzu a zároveň poskytuje vynikající rozlišení i při nízkém napětí, vysoké rychlosti a vysokém proudu sondy.
ZEISS GeminiSEM pro průmysl
Zažijte novou úroveň kontroly vašich vzorků.
Systém umožňuje vysoce výkonnou analýzu a zároveň poskytuje vynikající rozlišení i při nízkém napětí, vysoké rychlosti a vysokém proudu sondy. Díky velkému zornému poli a velice prostorné komoře je snadné zkoumat i velmi velké vzorky.
ZEISS GeminiSEM poskytuje efektivní charakterizaci chemického složení a orientace krystalů pomocí dvou diametrálně protilehlých EDS portů a koplanární konfigurace EDS/EBSD. Spolehněte se na rychlé mapování bez stínů.
Přizpůsobte a automatizujte vaše pracovní postupy: Pokud potřebujete testovat materiály na jejich technické limity, ZEISS vám dává k dispozici automatizovanou zkušební stanici in situ pro zkoušky tahem za vysokých teplot.

Oblasti použití
- Analýza poruch mechanických, optických a elektronických součástí
- Analýza lomu a metalografie
- Charakterizace povrchu, mikrostruktury a blízko povrchu a komponentních prvků
- Elementární složení a fázové rozdělení
- Stanovení nečistot a vměstků