Přeskočit na hlavní obsah
Industrial Quality Solutions
zpět
Industrial Quality Solutions
doporučená hledání
oblíbená hledání
SEM s emisí pole​

ZEISS Sigma​

Získejte přístup ke spolehlivému zobrazování a analýzám s vysokým rozlišením​

Mikroskop ZEISS Sigma je založen na osvědčené technologii ZEISS Gemini. Konstrukce objektivu Gemini kombinuje elektrostatická a magnetická pole pro maximalizaci optického výkonu a zároveň minimalizaci vlivu pole na vzorek. To umožňuje vynikající zobrazování i u náročných vzorků, jako jsou magnetické materiály.​

  • Přesné reprodukovatelné výsledky z každého vzorku
  • Rychlé a snadné nastavení experimentu
  • Na základě osvědčené technologie Gemini
  • Flexibilní detekce pro jasný obraz
  • Sigma 560 se vyznačuje nejlepší geometrií EDS ve své třídě
ZEISS Sigma
Kontakt

ZEISS Sigma pro průmysl

Zažijte kvalitativně vyšší úroveň při testování vzorků​

Koncept InLens detekce Gemini zajišťuje efektivní detekci signálu detekcí sekundárních (SE) a/nebo zpětně rozptýlených (BSE) elektronů, čímž se minimalizuje doba potřebná k vytvoření obrazu. Technologie zesilovače paprsku Gemini zaručuje malé rozměry sondy a vysoký poměr signálu k šumu.​

Všechny své vzorky můžete charakterizovat pomocí nejnovější detekční technologie. Zachycujte topografické informace s vysokým rozlišením s inovativním detektorem ETSE a detektorem InLens v režimu vysokého vakua. Získejte ostré snímky v režimu proměnného tlaku s detektorem VPSE nebo C2D. S detektorem STEM můžete vytvořit transmisní snímky s vysokým rozlišením. Zkoumejte složení vzorků s detektorem HDBSD nebo YAG. ​

Oblasti použití

  • Analýza poruch materiálů a vyrobených součástí​
  • Zobrazování a analýza ocelí a kovů​
  • Kontrola zdravotnických prostředků​
  • Charakterizace polovodičových a elektronických součástek v řízení procesu a diagnostice​
  • Vysokorozlišovací zobrazování a analýza nových nanomateriálů​
  • Analýza povlaků a tenkých vrstev​
  • Charakterizace různých forem uhlíku a dalších 2D materiálů​
  • Zobrazování, analýza a diferenciace polymerních materiálů​
  • Provádění výzkumu baterií za účelem pochopení účinků stárnutí a zlepšení kvality​

Automatizovaná analýza částic a multimodální korelační zobrazování

  • Korelační automatizovaná analýza částic

    Od čistoty výroby a predikce opotřebení motoru až po výrobu oceli, environmentální management a aditivní výrobu – řešení analýzy částic s elektronovým mikroskopem ZEISS automatizují vaše pracovní postupy a zvyšují reprodukovatelnost.

    Korelovaná analýza zahrnující světelnou a elektronovou mikroskopii v plynulém integrovaném pracovním postupu

    • Automatické integrované LM/EM reportování
    • Přesné určení zdrojů kontaminace
    • Rychlejší informovaná rozhodnutí
    • Neustálé zlepšování kvality výroby
    • Rychlejší výsledky: automatizovaná analýza místo průběžných individuálních analýz a rychlejší kontrola a testování částic s integrovanými algoritmy strojového učení

     

  • Multimodální korelační zobrazování analýzy částic mikroplastů​

    ZEISS ZEN Intellesis umožňuje identifikaci částic pomocí strojového učení. K výsledkům se přistupuje prostřednictvím výkonného softwaru ZEISS ZEN Connect. ZEISS ZEN Intellesis poté poskytuje další vhled do distribuce částic na základě segmentace obrazu a klasifikace objektů pomocí strojového učení. ​

  • Korelace těchto dvou mikroskopických metod, SEM a Ramanovy spektroskopie, se používá ke generování maximálního množství informací během analýzy, zejména u polymerních částic. V softwaru ZEN Connect lze snímky SEM překrývat s dalšími snímky: se snímky Ramanovy spektroskopie pro standardní analýzu a se snímky ZEN Intellesis pro automatickou klasifikaci. Nástroj pro tvorbu reportů se používá k automatickému vytváření reportů v ZEN core na základě šablon, ukládá je ve formátu pdf nebo doc (4).

    Korelace těchto dvou mikroskopických metod, SEM a Ramanovy spektroskopie, se používá ke generování maximálního množství informací během analýzy, zejména u polymerních částic. V softwaru ZEN Connect lze snímky SEM překrývat s dalšími snímky: se snímky Ramanovy spektroskopie pro standardní analýzu a se snímky ZEN Intellesis pro automatickou klasifikaci. Nástroj pro tvorbu reportů se používá k automatickému vytváření reportů v ZEN core na základě šablon, ukládá je ve formátu pdf nebo doc (4).

    U SEM snímku (1) se používá analýza obrazu k segmentaci všech částic (2) a měření vybraných parametrů. Měření lze zobrazit například ve formě distribuce velikosti. Klasifikace objektů Intellesis se používá k další klasifikaci segmentovaných částic a jejich třídění do podtypů (3). Pomocí těchto informací lze určit počet částic podle typu. Klasifikace objektů se provádí pro standardní nano- a mikroplastické částice (polystyren (PS, světle modrá), polyethylen (PE, zelená), polyamid-nylon 6 (PA, tmavě modrá) a polyvinylchlorid (PVC, červená)) na polykarbonátovém filtru zobrazeném pomocí ZEISS Sigma. Tato korelační studie kombinuje vysoké rozlišení elektronového mikroskopu s analytickými možnostmi Ramanova mikroskopu. ​

ZEISS SmartPI​

ZEISS SmartPI byl navržen pro opakovatelnou analýzu velkých objemů rutinních vzorků ve výrobním prostředí. Schopnost rozpoznat, analyzovat a hlásit údaje o kontaminaci dodává nový rozměr řízení procesu. Využijte značných vylepšení v plně automatizované SEM analýze a klasifikaci částic. Vyzkoušejte řešení ZEISS SmartPI, které zvýší vaši produktivitu i kvalitu, a sníží náklady na kontaminaci. Automaticky detekuje, měří, počítá a klasifikuje sledované částice na základě morfologie a elementárního složení.​

Automaticky se generují zprávy podle průmyslových norem jako například VDA 19.1 a ISO 16232​

Plně integrovaný a kompatibilní se systémy EDS Bruker a Oxford​

Zjistěte více v našich videích o ZEISS Sigma

  • Vývoj optiky ZEISS Gemini

    Blokovaný obsah třetí strany

    Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
    Technologie ZEISS Gemini pro průmysl. ZEISS nabízí správné řešení pro každou aplikaci. Podívejte se na video, kde se dozvíte o vývoji a výhodách technologie Gemini.​

Stáhnout brožuru SEM

Kontaktujte nás

Máte zájem dozvědět se více o našich produktech nebo službách? Velmi rádi vám poskytneme další informace nebo živou ukázku – online nebo osobně.​

ZEISS Metrology Shop

Snadné objednávání snímačů, měřicího příslušenství a dalších položek

ZEISS Metrology Portal

Získáte přístup k celé škále systémů a softwarových služeb

ZEISS Academy Metrology

Vaše personalizované metrologické školení, dostupné v různých formátech

Potřebujete další informace?

Kontaktujte nás. Naši odborníci se s vámi spojí.

Formulář se načítá…

/ 4
Další krok:
  • Poptávka
  • Osobní údaje
  • Údaje o společnosti

Pokud chcete získat více informací o zpracování údajů ve společnosti ZEISS, přečtěte si prosím naše oznámení o ochraně osobních údajů.