Zvládnout složité úlohy. S mikroskopickými řešeními ZEISS.
Úlohy v materiálografii se neustále mění a požadavky na výkon se zvyšují. Součásti jsou stále složitější, nanášené povlaky stále tenčí. Miniaturizace v elektronice postupuje. Nové kompozitní materiály se používají zejména v lehkých konstrukcích. Udržitelné materiály a aditivně vyráběné součásti představují nové výzvy pro charakterizaci materiálů. Současně se obecně snižují tolerance chyb, což vyžaduje přesnější analýzy. Laboratoře pro testování materiálů musí držet krok s tímto vývojem. Jsou vystaveny stále většímu časovému tlaku. ZEISS nabízí materiálovým specialistům jedinečnou hloubku mikroskopického zobrazení, software a služby pro efektivní testování. Mikroskopická řešení ZEISS navíc usnadňují práci všem uživatelům, protože díky algoritmům hlubokého učení jsou výsledky spolehlivější, přesnější a rychleji dostupné než kdykoli předtím.
Bezchybná a efektivní mikroskopická kontrola. Od vzorku k výsledku.
V materiálografii lze potřebné výsledky mikroskopie zaručit pouze, pokud byly předchozí procesní kroky provedeny bez chyb. ZEISS nabízí vhodné mikroskopy pro spolehlivý a efektivní proces analýzy: od odběru a přípravy vzorku přes pořízení obrazu až po zpracování a vyhodnocení obrazu.
Kovový povrch při 24násobném zvětšení
Polarizační kontrastní snímek pro kontrolu procesu leptání
Kontrastní snímek povlaku fosteritu v tmavém poli
Automatická segmentace obrazu se softwarem ZEISS ZEN core
3D vizualizace krystalové struktury titanu
Příklady mikroskopů
ZEISS Stemi 508
Stereo mikroskop se zoomem 8:1 Rozlišení: 1 µm
ZEISS Axioscope 5
Částečně motorizovaný světelný mikroskop s kódovanými prvky Rozlišení: 0,7 µm
ZEISS Axio Imager
Mikroskopický systém pro automatizovanou analýzu materiálů Rozlišení: 250 nm
ZEISS EVO
SEM pro analýzu kvality v průmyslu Rozlišení: 2 nm
ZEISS Versa
Rentgenový mikroskop pro nedestruktivní 3D zobrazování 3D rozlišení: 40 nm
Kliknutím na kroužky na obrázku otevřete informační okno s podrobnějšími informacemi.
Příklad kompletního mikroskopického vybavení pro materiálovou laboratoř: Světelná a digitální mikroskopie
ZEISS Stemi 305/508
Kontrola vzorku se stereomikroskopy ZEISS Stemi 305/508
ZEISS Axio Imager
Automatická materiálová analýza s plně motorizovaným mikroskopickým systémem ZEISS Axio Imager
ZEISS Axio Zoom.V16
Velká pole vzorků, topografie pomocí mikroskopu se stereo zoomem ZEISS Axio Zoom.V16
ZEISS Axiovert 5/7
Velké a těžké vzorky s inverzním mikroskopem ZEISS Axiovert 5/7
ZEISS Axioscope
Rutinní úlohy v materiálové laboratoři s mikroskopem s odraženým světlem ZEISS Axioscope
ZEISS Smartzoom 5
Opakované analýzy vzorků a topografie pomocí automatického digitálního mikroskopu ZEISS Smartzoom 5
Kliknutím na kroužky na obrázku otevřete informační okno s podrobnějšími informacemi.
Příklad kompletního mikroskopického vybavení pro materiálovou laboratoř: Rastrovací (skenovací) elektronová mikroskopie a rentgenová mikroskopie
ZEISS CrystalCT
Nedestruktivní 3D rentgenové zobrazování s rentgenovým mikroskopem s vysokým rozlišením ZEISS CrystalCT
ZEISS Sigma
Vysoce kvalitní zobrazování s emisním rastrovacím elektronovým mikroskopem ZEISS Sigma
ZEISS EVO
Modulární elektronová mikroskopie s rastrovacím elektronovým mikroskopem ZEISS EVO
ZEISS ZEN core představuje standardizované řešení pro zobrazování, segmentaci, analýzu a datovou konektivitu v materiálové laboratoři Vzhledem k tomu, že uživatelské rozhraní lze nakonfigurovat podle dané úlohy, mohou software snadno a bezpečně ovládat i méně zkušení uživatelé. ZEN core využívá umělou inteligenci, která do značné míry automatizuje manuální složité pracovní kroky, jako je například segmentace. Jednoduchá korelace světelné, digitální a elektronové mikroskopie umožňuje hlubší pochopení mikrostruktury a analýzu poruch. Prostřednictvím softwaru ZEISS ZEN core lze vzájemně propojit více laboratorních pracovišť.
Vaše řídicí centrum pro všechny úlohy.
Software ZEISS ZEN core.
ZEISS ZEN core
ZEISS ZEN core umožňuje vzájemně propojit různé typy mikroskopů a laboratorních pracovišť.
Rychleji a přesněji kontrolovat pomocí metody hlubokého učení
ZEISS ZEN core poskytuje automatizovanou obrazovou analýzu pro analýzu částic a fází. Techniky tzv. hlubokého učení (deep learning) výrazně snižují pracnost v těchto aplikacích, fungují uživatelsky nezávisle a reprodukovatelně, vždy podle stejných natrénovaných vzorů. Mikroskopický obraz hliníkové slitiny je automaticky segmentován metodou hlubokého učení. Algoritmus spolehlivě identifikuje jednotlivá zrna. Dotýkající se a překrývající se objekty lze oddělit (segmentace instancí).
Nejnovější modely hlubokého učení: Automatické určování hranic zrn keramiky, austenitické oceli, tvrdokovu a slitiny na bázi mědi s podporou umělé inteligence. V tomto příkladu stačilo natrénovat model hlubokého učení, aby spolehlivě rozpoznal hranice zrn všech čtyř materiálů.
Korelace se světelnými, digitálními a elektronovými mikroskopy
ZEISS ZEN Connect
Různé mikroskopy – jedno korelované vyhodnocení
V mnoha aplikacích má smysl zkoumat stejný vzorek optickým i elektronovým mikroskopem. Různé úrovně zvětšení a kontrasty společně umožňují hlubší pochopení stavu vzorku. Se softwarem ZEISS ZEN Connect můžete efektivně překrývat multimodální obrazová data a rychle přepínat z celkového pohledu na detailní zobrazení ve vysokém rozlišení. Všechna obrazová data, včetně dat od poskytovatelů třetích stran, lze s ZEISS ZEN Connect pohodlně zarovnat, překrýt a vizualizovat v jejich kontextu.
Sady nástrojů v ZEISS ZEN core
ZEISS ZEN core má modulární strukturu a lze jej individuálně rozšířit o potřebné nástroje.
ZEISS nabízí mimo jiné tyto doplňkové sady nástrojů:
Materiálové aplikace Nástroje pro analýzy velikosti zrn, analýzy litiny, vícefázové analýzy, porovnávání referenčních řad a měření tloušťky povlaku
Sada nástrojů AI Sada AI aplikací pro segmentaci, klasifikaci objektů a odšumování obrazu, včetně tréninkových rozhraní
Analýza obrazu pomocí 2D sady nástrojů 2D analýza obrazu pomocí automatických měřicích programů včetně pokročilého zpracování
Sada nástrojů pro vývojáře Programování vlastních maker v programovacím jazyce Python, ovládání ZEISS ZEN core prostřednictvím rozhraní API
Ukládání dat Centrální databáze obrazů založená na SQL pro inteligentní správu dat s integrovanou správou uživatelů a přístupu
Sada nástrojů Connect ZEISS ZEN Connect umožňuje zarovnat, překrývat a korelovat multimodální obrazová data z různých typů mikroskopů.
Charakterizace materiálů se softwarem ZEISS ZEN core
Jednoduché vyhodnocení podle norem
Technická keramika, zdravotnická technika
CFRP, letecký průmysl
Solární články, obnovitelné zdroje energie
Šedá litina, systémové inženýrství
Ocel, systémové inženýrství
Aplikace
Velikosti zrn Rozdělení velikosti zrn
Vícefázové Podíl fáze v procentech podle plochy
Tloušťka vrstev Automatická detekce okrajů
Litina Velikost, tvar a rozložení částic litiny
Nekovové inkluze Množství a velikost oxidů, sulfidů, nitridů atd.
Vysvětlení
Kvantifikujte krystalografickou strukturu vašich materiálů podle mezinárodních norem.
Pomocí tohoto modulu můžete určit fáze podle velikosti částic i podle procentuálního podílu příslušné plochy povrchu fáze. Důležitou aplikací je zkoumání pórovitosti.
Změřte tloušťku povlaků nebo hloubku kalených povrchů v průřezu vzorku. Vyhodnocujte složité nátěrové systémy buď automaticky nebo interaktivně a výsledky uvádějte v přehledné zprávě.
Zcela automaticky analyzujte tvar a velikost grafitových částic v litině a určete plošný podíl grafitových částic.
Tento modul umožňuje analyzovat nekovové inkluze v oceli pro posouzení čistoty oceli. Automatizované řešení pracovního postupu založené na normách zahrnuje sběr vzorků, klasifikaci a vyhodnocování inkluzí, jakož i dokumentaci a archivaci výsledků.
Příklad technologie baterií:
Analýza velikosti zrn částic katody NCM
Pomocí elektronového mikroskopu ZEISS s detektorem Inlense-EsB lze odhalit jen okrajově viditelné hranice zrn částic katody NCM. Algoritmus umělé inteligence potom automaticky a spolehlivě segmentuje obraz z mikroskopu. Takto analyzovaný obraz lze použít například k určení rozdělení velikosti zrn.
Příklad: Vícefázová analýza
na povlaku nanášeném tepelným nástřikem
Tepelné nástřiky zlepšují mimo jiné odolnost podkladového materiálu vůči korozi, teplu nebo opotřebení. Pórovitost metalograficky připraveného vzorku lze snadno stanovit pomocí vícefázové analýzy s podporou AI. Pórovitost umožňuje vyvodit závěry o struktuře a tvrdosti nástřiku.
Jednodušší už to být nemůže, ... a ať tento vzorek analyzuje kdokoli, výsledky měření budou vždy stejné.
Zjistěte více o našich řešeních ZEISS pro materiálografii
Inteligentnější. Větší úspora času. ZEISS ZEN Intellesis.
Metalografie a testování materiálů s materiálovými moduly ZEISS ZEN core.
Zaručená kvalita při výrobě oceli: ZEISS Non-Metallic Inclusion Analysis (NMI)
ZEISS ZEN Connect: Mikroskopické snímky a analytická data v celkovém kontextu.
ZEISS ZEN Data Storage: Centralizovaná správa dat v síťových laboratorních prostředích.
Blokovaný obsah třetí strany
Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
AI urychluje proces měření Řešení ZEISS s podporou AI automaticky kontroluje povlaky implantátů.
AI urychluje proces měření
Blokovaný obsah třetí strany
Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
Společnost SPC Werkstofflabor GmbH podporuje výrobce a zpracovatele oceli jako servisní partner – spoléhá na kombinaci světelné a rastrovací elektronové mikroskopie ZEISS
Kontrola je lepší: SPC kontroluje materiály pomocí mikroskopie ZEISS
Blokovaný obsah třetí strany
Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
Pomocí osvědčených technik strojového učení, jako je klasifikace pixelů nebo hluboké učení, umožňuje ZEISS ZEN Intellesis i neodborníkům získat stabilní a reprodukovatelné výsledky segmentace. Stačí načíst váš obraz, definovat třídy, označit pixely, natrénovat model a provést segmentaci.
Inteligentnější. Větší úspora času. ZEISS ZEN Intellesis.
Blokovaný obsah třetí strany
Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
Jak můžete urychlit metalografická zkoumání? Jak zacházíte s novými materiály? Jak se vyhnout nesprávným výsledkům? Jak zajistíte produktivitu v laboratoři? Místo pouhého získávání funkcí získáte se ZEN Core skutečně produktivní balíček a pozvednete materiálové zkoumání na novou úroveň.
Metalografie a testování materiálů s materiálovými moduly ZEISS ZEN core.
Blokovaný obsah třetí strany
Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
Ocel je jedním z nejpoužívanějších materiálů na světě. I malé nekovové inkluze mohou ovlivnit mechanické vlastnosti, zpracování a korozní chování oceli. ZEN Non-Metallic Inclusions je vaše řešení pro rychlou a spolehlivou analýzu NMI.
Zaručená kvalita při výrobě oceli: ZEISS Non-Metallic Inclusion Analysis (NMI)
Blokovaný obsah třetí strany
Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
Pomocí ZEN Connect můžete vizualizovat různé mikroskopické snímky a data vzorku – ve vzájemném kontextu na společném místě. Objevte souvislosti mezi obrazovými daty z různých měřítek. Můžete také využít integrované reportování pro soubory připojených dat.
ZEISS ZEN Connect: Mikroskopické snímky a analytická data v celkovém kontextu.
Blokovaný obsah třetí strany
Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
Datové úložiště ZEN umožňuje centralizovanou správu předvoleb zařízení, pracovních postupů, obrazových dat a reportů z různých systémů a laboratorních pracovišť. Oddělte pořizování mikroskopických snímků od následných analytických úloh, tím zefektivníte laboratorní práci.
ZEISS ZEN Data Storage: Centralizovaná správa dat v síťových laboratorních prostředích.
Přesné a spolehlivé výsledky jsou samozřejmě důležité, ale je také třeba je rychle získat.
Mikroskopické aplikace pro materiálografii:
Příklady zákazníků z průmyslu pro průmysl
Jednodušší už to být nemůže.
Řešení ZEISS s podporou umělé inteligence automaticky kontroluje povlaky implantátů.
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/materiolography_stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.33.0,95,1920,736.file/materiolography_stage.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/materiolography_stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.120.0,95,1920,736.file/materiolography_stage.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/materiolography_stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.256.0,95,1920,736.file/materiolography_stage.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/materiolography_stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.341.0,95,1920,736.file/materiolography_stage.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/materiolography_stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.427.0,95,1920,736.file/materiolography_stage.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/materiolography_stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.480.0,95,1920,736.file/materiolography_stage.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/materiolography_stage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.640.0,95,1920,736.file/materiolography_stage.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.33.0,220,1920,860.file/zen-core_en.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.120.0,220,1920,860.file/zen-core_en.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.256.0,220,1920,860.file/zen-core_en.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.341.0,220,1920,860.file/zen-core_en.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.427.0,220,1920,860.file/zen-core_en.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.480.0,220,1920,860.file/zen-core_en.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.640.0,220,1920,860.file/zen-core_en.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zoom.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,61,1244,761.file/zoom.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zoom.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,61,1244,761.file/zoom.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zoom.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,61,1244,761.file/zoom.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zoom.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,61,1244,761.file/zoom.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zoom.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1244.700.0,61,1244,761.file/zoom.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zoom.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1244.700.0,61,1244,761.file/zoom.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zoom.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1244.700.0,61,1244,761.file/zoom.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/kontrastbild_16_9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,0,1578,888.file/kontrastbild_16_9.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/kontrastbild_16_9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,0,1578,888.file/kontrastbild_16_9.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/kontrastbild_16_9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,0,1578,888.file/kontrastbild_16_9.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/kontrastbild_16_9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,0,1578,888.file/kontrastbild_16_9.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/kontrastbild_16_9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.0,0,1578,888.file/kontrastbild_16_9.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/kontrastbild_16_9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.0,0,1578,888.file/kontrastbild_16_9.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/kontrastbild_16_9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1578.888.0,0,1578,888.file/kontrastbild_16_9.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/intellesis_inputimage.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,192,2048,1344.file/intellesis_inputimage.png","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/intellesis_inputimage.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,192,2048,1344.file/intellesis_inputimage.png","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/intellesis_inputimage.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,192,2048,1344.file/intellesis_inputimage.png","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/intellesis_inputimage.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,192,2048,1344.file/intellesis_inputimage.png","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/intellesis_inputimage.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.0,192,2048,1344.file/intellesis_inputimage.png","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/intellesis_inputimage.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.0,192,2048,1344.file/intellesis_inputimage.png","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/intellesis_inputimage.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.1080.0,192,2048,1344.file/intellesis_inputimage.png"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/forsterit_intellesis_segmentation.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,192,2048,1344.file/forsterit_intellesis_segmentation.png","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/forsterit_intellesis_segmentation.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,192,2048,1344.file/forsterit_intellesis_segmentation.png","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/forsterit_intellesis_segmentation.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,192,2048,1344.file/forsterit_intellesis_segmentation.png","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/forsterit_intellesis_segmentation.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,192,2048,1344.file/forsterit_intellesis_segmentation.png","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/forsterit_intellesis_segmentation.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.0,192,2048,1344.file/forsterit_intellesis_segmentation.png","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/forsterit_intellesis_segmentation.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.0,192,2048,1344.file/forsterit_intellesis_segmentation.png","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/forsterit_intellesis_segmentation.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.1080.0,192,2048,1344.file/forsterit_intellesis_segmentation.png"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/crysstalct_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,115,1228,806.file/crysstalct_800x600.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/crysstalct_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,115,1228,806.file/crysstalct_800x600.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/crysstalct_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,115,1228,806.file/crysstalct_800x600.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/crysstalct_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,115,1228,806.file/crysstalct_800x600.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/crysstalct_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1228.691.0,115,1228,806.file/crysstalct_800x600.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/crysstalct_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1228.691.0,115,1228,806.file/crysstalct_800x600.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/crysstalct_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1228.691.0,115,1228,806.file/crysstalct_800x600.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/microscopy_range.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.77,0,1786,962.file/microscopy_range.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/microscopy_range.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.77,0,1786,962.file/microscopy_range.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/microscopy_range.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.77,0,1786,962.file/microscopy_range.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/microscopy_range.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.77,0,1786,962.file/microscopy_range.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/microscopy_range.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.77,0,1786,962.file/microscopy_range.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/microscopy_range.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.77,0,1786,962.file/microscopy_range.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/microscopy_range.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1709.961.77,0,1786,962.file/microscopy_range.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,0,5534,3113.file/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,0,5534,3113.file/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,0,5534,3113.file/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,0,5534,3113.file/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.0,0,5534,3113.file/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.0,0,5534,3113.file/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.1080.0,0,5534,3113.file/keyvisual_sem_range_v3_version_crystalct_rp_ohne.jpg"})
![ZEISS ZEN core]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zencore-v4.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,0,1920,1080.file/zencore-v4.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zencore-v4.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,0,1920,1080.file/zencore-v4.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zencore-v4.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,0,1920,1080.file/zencore-v4.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zencore-v4.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,0,1920,1080.file/zencore-v4.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zencore-v4.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.0,0,1920,1080.file/zencore-v4.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zencore-v4.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.0,0,1920,1080.file/zencore-v4.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zencore-v4.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.1080.0,0,1920,1080.file/zencore-v4.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/grain-size-anal_16-9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/grain-size-anal_16-9.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/grain-size-anal_16-9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/grain-size-anal_16-9.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/grain-size-anal_16-9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/grain-size-anal_16-9.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/grain-size-anal_16-9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/grain-size-anal_16-9.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/grain-size-anal_16-9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.file/grain-size-anal_16-9.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/grain-size-anal_16-9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.file/grain-size-anal_16-9.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/grain-size-anal_16-9.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.1080.file/grain-size-anal_16-9.jpg"})
![Hluboké učení (deep learning)]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/ipad_intell_deeplearning-2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/ipad_intell_deeplearning-2.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/ipad_intell_deeplearning-2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/ipad_intell_deeplearning-2.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/ipad_intell_deeplearning-2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/ipad_intell_deeplearning-2.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/ipad_intell_deeplearning-2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/ipad_intell_deeplearning-2.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/ipad_intell_deeplearning-2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.file/ipad_intell_deeplearning-2.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/ipad_intell_deeplearning-2.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.file/ipad_intell_deeplearning-2.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/ipad_intell_deeplearning-2.jpg/_jcr_content/renditions/original./ipad_intell_deeplearning-2.jpg"} "Hluboké učení (deep learning)")
![Funkce Shuttle & Find]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/shuttle-and-find.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/shuttle-and-find.png","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/shuttle-and-find.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/shuttle-and-find.png","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/shuttle-and-find.png/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/shuttle-and-find.png","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/shuttle-and-find.png/_jcr_content/renditions/original./shuttle-and-find.png","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/shuttle-and-find.png/_jcr_content/renditions/original./shuttle-and-find.png","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/shuttle-and-find.png/_jcr_content/renditions/original./shuttle-and-find.png","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/shuttle-and-find.png/_jcr_content/renditions/original./shuttle-and-find.png"} "Funkce Shuttle & Find")
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core-keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/zen-core-keyvisual.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core-keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/zen-core-keyvisual.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core-keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/zen-core-keyvisual.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core-keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/zen-core-keyvisual.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core-keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.file/zen-core-keyvisual.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core-keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.file/zen-core-keyvisual.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zen-core-keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original./zen-core-keyvisual.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/analyse_korngroesse_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,42,451,296.file/analyse_korngroesse_800x600.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/analyse_korngroesse_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,42,451,296.file/analyse_korngroesse_800x600.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/analyse_korngroesse_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.451.254.0,42,451,296.file/analyse_korngroesse_800x600.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/analyse_korngroesse_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.451.254.0,42,451,296.file/analyse_korngroesse_800x600.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/analyse_korngroesse_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.451.254.0,42,451,296.file/analyse_korngroesse_800x600.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/analyse_korngroesse_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.451.254.0,42,451,296.file/analyse_korngroesse_800x600.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/analyse_korngroesse_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.451.254.0,42,451,296.file/analyse_korngroesse_800x600.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/multiphase_analyse_02_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,50,525,345.file/multiphase_analyse_02_800x600.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/multiphase_analyse_02_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,50,525,345.file/multiphase_analyse_02_800x600.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/multiphase_analyse_02_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.525.295.0,50,525,345.file/multiphase_analyse_02_800x600.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/multiphase_analyse_02_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.525.295.0,50,525,345.file/multiphase_analyse_02_800x600.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/multiphase_analyse_02_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.525.295.0,50,525,345.file/multiphase_analyse_02_800x600.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/multiphase_analyse_02_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.525.295.0,50,525,345.file/multiphase_analyse_02_800x600.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/multiphase_analyse_02_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.525.295.0,50,525,345.file/multiphase_analyse_02_800x600.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/schichtdicke.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,70,740,486.file/schichtdicke.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/schichtdicke.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,70,740,486.file/schichtdicke.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/schichtdicke.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.740.416.0,70,740,486.file/schichtdicke.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/schichtdicke.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.740.416.0,70,740,486.file/schichtdicke.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/schichtdicke.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.740.416.0,70,740,486.file/schichtdicke.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/schichtdicke.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.740.416.0,70,740,486.file/schichtdicke.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/schichtdicke.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.740.416.0,70,740,486.file/schichtdicke.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,78,833,547.file/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,78,833,547.file/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,78,833,547.file/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.833.469.0,78,833,547.file/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.833.469.0,78,833,547.file/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.833.469.0,78,833,547.file/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.833.469.0,78,833,547.file/cast_iron_analyse_03_2_800x600.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/non-metallic-inclusions.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.0,100,1920,1180.file/non-metallic-inclusions.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/non-metallic-inclusions.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.0,100,1920,1180.file/non-metallic-inclusions.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/non-metallic-inclusions.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.0,100,1920,1180.file/non-metallic-inclusions.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/non-metallic-inclusions.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.0,100,1920,1180.file/non-metallic-inclusions.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/non-metallic-inclusions.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.0,100,1920,1180.file/non-metallic-inclusions.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/non-metallic-inclusions.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.0,100,1920,1180.file/non-metallic-inclusions.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/non-metallic-inclusions.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1920.1080.0,100,1920,1180.file/non-metallic-inclusions.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_04.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/tabletpro_screen_04.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_04.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/tabletpro_screen_04.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_04.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/tabletpro_screen_04.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_04.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/tabletpro_screen_04.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_04.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.file/tabletpro_screen_04.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_04.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.file/tabletpro_screen_04.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_04.jpg/_jcr_content/renditions/original./tabletpro_screen_04.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_02.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/tabletpro_screen_02.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_02.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/tabletpro_screen_02.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_02.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/tabletpro_screen_02.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_02.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.file/tabletpro_screen_02.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_02.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.file/tabletpro_screen_02.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_02.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.file/tabletpro_screen_02.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/tabletpro_screen_02.jpg/_jcr_content/renditions/original./tabletpro_screen_02.jpg"})
![Stéphane Monod]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.file/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.file/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.file/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg/_jcr_content/renditions/original./smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg/_jcr_content/renditions/original./smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg/_jcr_content/renditions/original./smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg/_jcr_content/renditions/original./smith-nephew_zeiss_6906_b.jpg"} "Stéphane Monod")
![ZEISS a Smith&Nephew]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg/_jcr_content/renditions/original./zeiss_iqs_microscopy_medical_smithandnephew_axioimager_video_en.jpg"} "ZEISS a Smith&Nephew")
![Kontrola je lepší: SPC kontroluje materiály pomocí mikroskopie ZEISS]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/lazy-spc.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.40,0,772,412.file/lazy-spc.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/lazy-spc.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.40,0,772,412.file/lazy-spc.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/lazy-spc.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.732.412.40,0,772,412.file/lazy-spc.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/lazy-spc.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.732.412.40,0,772,412.file/lazy-spc.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/lazy-spc.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.732.412.40,0,772,412.file/lazy-spc.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/lazy-spc.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.732.412.40,0,772,412.file/lazy-spc.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/lazy-spc.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.732.412.40,0,772,412.file/lazy-spc.jpg"} "Kontrola je lepší: SPC kontroluje materiály pomocí mikroskopie ZEISS")
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/zen-intellesis_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/zen-intellesis_posterimage.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/zen-intellesis_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/zen-intellesis_posterimage.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/zen-intellesis_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/zen-intellesis_posterimage.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/zen-intellesis_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./zen-intellesis_posterimage.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/zen-intellesis_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./zen-intellesis_posterimage.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/zen-intellesis_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./zen-intellesis_posterimage.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/zen-intellesis_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./zen-intellesis_posterimage.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-modules_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/material-modules_posterimage.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-modules_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/material-modules_posterimage.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-modules_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/material-modules_posterimage.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-modules_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./material-modules_posterimage.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-modules_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./material-modules_posterimage.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-modules_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./material-modules_posterimage.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-modules_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./material-modules_posterimage.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/nmi_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/nmi_posterimage.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/nmi_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/nmi_posterimage.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/nmi_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/nmi_posterimage.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/nmi_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./nmi_posterimage.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/nmi_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./nmi_posterimage.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/nmi_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./nmi_posterimage.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/nmi_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./nmi_posterimage.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/connected-zen-core_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/connected-zen-core_posterimage.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/connected-zen-core_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/connected-zen-core_posterimage.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/connected-zen-core_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/connected-zen-core_posterimage.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/connected-zen-core_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./connected-zen-core_posterimage.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/connected-zen-core_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./connected-zen-core_posterimage.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/connected-zen-core_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./connected-zen-core_posterimage.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/connected-zen-core_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./connected-zen-core_posterimage.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/data-storage_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/data-storage_posterimage.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/data-storage_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/data-storage_posterimage.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/data-storage_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/data-storage_posterimage.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/data-storage_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./data-storage_posterimage.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/data-storage_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./data-storage_posterimage.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/data-storage_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./data-storage_posterimage.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/data-storage_posterimage.jpg/_jcr_content/renditions/original./data-storage_posterimage.jpg"})
![Thomas Schaupp]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/thomas-schaupp.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.394,0,1969,1575.file/thomas-schaupp.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/thomas-schaupp.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.394,0,1969,1575.file/thomas-schaupp.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/thomas-schaupp.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.394,0,1969,1575.file/thomas-schaupp.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/thomas-schaupp.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.394,0,1969,1575.file/thomas-schaupp.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/thomas-schaupp.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.1280.394,0,1969,1575.file/thomas-schaupp.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/thomas-schaupp.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.1440.394,0,1969,1575.file/thomas-schaupp.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/materialography/thomas-schaupp.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1575.1575.394,0,1969,1575.file/thomas-schaupp.jpg"} "Thomas Schaupp")
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/smith-nephew_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/smith-nephew_success-story.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/smith-nephew_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/smith-nephew_success-story.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/smith-nephew_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/smith-nephew_success-story.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/smith-nephew_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/smith-nephew_success-story.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/smith-nephew_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.file/smith-nephew_success-story.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/smith-nephew_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.file/smith-nephew_success-story.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/smith-nephew_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original./smith-nephew_success-story.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/grob_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.file/grob_success-story.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/grob_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.file/grob_success-story.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/grob_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.file/grob_success-story.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/grob_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.file/grob_success-story.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/grob_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1280.720.file/grob_success-story.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/grob_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1440.810.file/grob_success-story.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/grob_success-story.jpg/_jcr_content/renditions/original./grob_success-story.jpg"})
![]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-testing_teaser.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.56.71,0,1209,640.file/material-testing_teaser.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-testing_teaser.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.203.71,0,1209,640.file/material-testing_teaser.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-testing_teaser.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.432.71,0,1209,640.file/material-testing_teaser.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-testing_teaser.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.576.71,0,1209,640.file/material-testing_teaser.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-testing_teaser.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1138.640.71,0,1209,640.file/material-testing_teaser.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-testing_teaser.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1138.640.71,0,1209,640.file/material-testing_teaser.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/systems/industrial-microscopy/material-testing_teaser.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1138.640.71,0,1209,640.file/material-testing_teaser.jpg"})
![Automatizované mikroskopické měření 2D obrazových dat]({"xsmall":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/software/zen-core/zen-core_keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.100.100.420,0,1500,1080.file/zen-core_keyvisual.jpg","small":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/software/zen-core/zen-core_keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.360.360.420,0,1500,1080.file/zen-core_keyvisual.jpg","medium":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/software/zen-core/zen-core_keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.768.768.420,0,1500,1080.file/zen-core_keyvisual.jpg","large":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/software/zen-core/zen-core_keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1024.1024.420,0,1500,1080.file/zen-core_keyvisual.jpg","xlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/software/zen-core/zen-core_keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.420,0,1500,1080.file/zen-core_keyvisual.jpg","xxlarge":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/software/zen-core/zen-core_keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.420,0,1500,1080.file/zen-core_keyvisual.jpg","max":"https://www.zeiss.cz/content/dam/iqs/r/software/zen-core/zen-core_keyvisual.jpg/_jcr_content/renditions/original.image_file.1080.1080.420,0,1500,1080.file/zen-core_keyvisual.jpg"} "Automatizované mikroskopické měření 2D obrazových dat")
![Náhled obrázku ZEISS IMS Materialography Brochure EN]({"max":"https://asset-downloads.zeiss.com/catalogs/preview/iqs/6d68129a-70dd-4184-80a4-db572fcbc3b5/ZEISS_IMS_Materialographie_Brochure_en_final_mid.pdf.pdf.jpg"} "Stáhnout ZEISS IMS Materialography Brochure EN")
![Náhled obrázku ZEISS IQS, Mic and Medical, Success Story, SmithandNephew, EN, PDF]({"max":"https://asset-downloads.zeiss.com/catalogs/preview/iqs/cf4d6965-62c4-400c-9c8d-3a0941fdb882/IQS_IMS_Mic_Medical_Customer_Story_SmithandNephew_EN_PDF.pdf.pdf.jpg"} "Stáhnout ZEISS IQS, Mic and Medical, Success Story, SmithandNephew, EN, PDF")
![Náhled obrázku ZEISS IQS, Mic and NEV, Success Story, GROB, EN, PDF]({"max":"https://asset-downloads.zeiss.com/catalogs/preview/iqs/4a9aabf5-d8b5-4449-b300-ad5de4fcb439/ZEISS_IQS_Kundenstory_GROB_Mic_NEV_EN_final2.pdf.pdf.jpg"} "Stáhnout ZEISS IQS, Mic and NEV, Success Story, GROB, EN, PDF")
![Náhled obrázku ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer]({"max":"https://asset-downloads.zeiss.com/catalogs/preview/iqs/fd5027cb-c7ad-4059-9728-8d6f4becc028/ZEISS_IMS_Kunden_Story_SPC_Mik_EN_final_02.pdf.pdf.jpg"} "Stáhnout ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer")