Přeskočit na hlavní obsah
Industrial Quality Solutions
zpět
Základní konvenční SEM

ZEISS EVO

Všestranný elektronový mikroskop s intuitivním ovládáním poskytující kvalitní data

Mikroskopy řady ZEISS EVO kombinují vysoce výkonnou rastrovací elektronovou mikroskopii s intuitivním a uživatelsky přívětivým ovládáním, které osloví jak odborníky, tak i nové uživatele. Díky rozsáhlým možnostem lze ZEISS EVO přesně přizpůsobit vašim požadavkům, ať se zabýváte materiálovými vědami nebo rutinním průmyslovým zajišťováním kvality a analýzou poruch.

  • Všestranné víceúčelové řešení
  • Nejlepší použitelnost ve své třídě
  • Vynikající kvalita obrazu
  • Automatizace pracovních postupů a integrita dat
ZEISS EVO
Kontakt

ZEISS EVO pro průmysl

Posuňte kontrolu na vyšší úroveň.

ZEISS EVO je konvenční základní systém s wolframovým nebo LaB6 filamentem pro každodenní opakovatelné zobrazovací úlohy, např. analýzu materiálů s vysokým rozlišením, s převážně automatizovanými a podpůrnými pracovními postupy. Systém nabízí flexibilitu pro méně náročné velikosti struktur.

Oblasti použití

  • Analýza a kontrola kvality
  • Analýza poruch a fraktografie
  • Materiálografie
  • Kontrola čistoty
  • Morfologická a chemická analýza částic dle norem ISO 16232 a VDA 19 část 1 a 2
  • Analýza nekovových vměstků 

ZEISS EVO: Všestranný elektronový mikroskop s intuitivním ovládáním poskytující kvalitní data

Posuňte kontrolu na vyšší úroveň. ZEISS EVO vám nabízí možnosti konfigurace, které přesně splní vaše požadavky na cenu a výkon. Přizpůsobte si požadované rozlišení vaší aplikaci a vyberte si ze tří velikostí komory.

Můžete si také zvolit vysoké vakuum, proměnný tlak nebo okolní tlak, aby vyhovovaly typu vašeho vzorku. Poté si zvolte některý z detektorů SE, BSE, EDS, VP a C2D, který bude vyhovovat vaší aplikaci. S mikroskopem ZEISS EVO získáte výhody elektronové mikroskopie za dostupnou cenu.

Příklady použití

  • Elektronika

    Na povrchu integrovaného obvodu jsou patrné nečistoty a kontaminace. Zobrazeno pomocí detektoru SE ve vysokém vakuu při 10 kV.

  • Palivové články

    Palivové články se obvykle skládají z polymerních elektrolytických membrán vložených mezi platinové elektrody. Tyto kritické komponenty je třeba zobrazovat při nízkém napětí, aby se získaly informace o detailech povrchu ve vysokém rozlišení. Průřez se zdrojem LaB6 (vlevo) a wolframovým zdrojem (vpravo) při 3 kV. Zdroj LaB6 poskytuje více detailů povrchu při nízkých urychlovacích napětích.

  • Pozinkovaná nízkouhlíková ocel

    Průřez pozinkovanou nízkouhlíkovou ocelí, zobrazený pomocí detektoru SE na objektivu ZEISS EVO 15. Vlevo: montážní pryskyřice; uprostřed: vrstva zinku; vpravo: nízkouhlíková ocel.

  • Analýza materiálu pomocí rentgenové spektroskopie (EDS)

    BSE snímky reprezentativních zkorodovaných povrchů s EDS mapou: chrom, olovo, měď, nikl, karbon a kyslík.

  • Analýza poruchy na povrchu kuličkového ložiska

    Povrch kuličkového ložiska zobrazený detektorem BSE ukazuje praskání a odlupování povrchové struktury.

  • Technická čistota

    Částice z filtru částic: analýza technické čistoty a kontrola kvality.

Rastrovací elektronový mikroskop ZEISS EVO

  • 10 hlavních bodů za 90 sekund

    Blokovaný obsah třetí strany

    Video přehrávač je zablokován kvůli vaším předvolbám souborů cookie. Pro změnu nastavení a přehrátí videozáznamu klikněte na níže uvedené tlačítko a vyslovte svůj souhlas s použitím „funkčních“ sledovacích technologií.
    Zjistěte, jak vám skenovací elektronový mikroskop ZEISS EVO pomůže s rutinní kontrolou a analýzou poruch v laboratořích kvality a materiálů tím, že umožňuje intuitivní zobrazování i začínajícím uživatelům. Funkce EVO: - Zobrazování s vysokým rozlišením - Efektivní provoz - Analýza chemického složení - Velké obrobky - Pořizování snímků velkých ploch - Nevodivé vzorky - EDS analýza částic - Automatizovaná měření - Inteligentní segmentace obrazu - Korelace a sdílení obrazu

Další aplikace pro průmysl:

  • Fázová, částicová a svarová analýza, analýza materiálu a vad
  • Vizuální kontrola elektronických součástek, integrovaných obvodů, zařízení MEMS a solárních článků
  • Výzkum povrchu měděných drátů a krystalové struktury
  • Výzkum koroze kovů
  • Analýza intermetalických fází a fázových přechodů
  • Zobrazování a analýza mikrotrhlin a lomové pevnosti
  • Výzkum povlaků a kompozitních materiálů
  • Zkoumání svarových švů a tepelně ovlivněných zón

Vždy, když je třeba, pomůže nám ZEISS EVO najít jehlu v kupce sena.

Johannes Bachmann, je odborník na materiálovou analýzu ve společnosti INNIO Group. Stáhněte si leták a přečtěte si celý článek.

Přesné a spolehlivé výsledky jsou samozřejmě důležité, ale je také třeba je získat rychle.

uvádí Thomas Schaupp, vedoucí akreditované materiálové laboratoři SPC. Zjistěte, jak ZEISS EVO a korelační mikroskopie od společnosti ZEISS pomáhají zkušební laboratoři dosáhnout o 30 % rychlejších výsledků. Stáhněte si leták a přečtěte si celý článek.

Mikroskopické aplikace pro zajištění kvality:

Příklady zákazníků, brožura zkušenosti z průmyslu
  • Náhled obrázku ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    16 MB
    Stáhnout
  • Náhled obrázku ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

    ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

    17 MB
    Stáhnout
  • Náhled obrázku ZEISS IMS SEM Brochure Portfolio EN PDF

    ZEISS IMS SEM Brochure Portfolio EN PDF

    22 MB
    Stáhnout

Kontaktujte nás

Máte zájem dozvědět se více o našich produktech nebo službách? Velmi rádi vám poskytneme další informace nebo živou ukázku – online nebo osobně.​

ZEISS Metrology Shop

Snadné objednávání snímačů, měřicího příslušenství a dalších položek

ZEISS Metrology Portal

Získáte přístup k celé škále systémů a softwarových služeb

ZEISS Academy Metrology

Vaše personalizované metrologické školení, dostupné v různých formátech

Potřebujete další informace?

Kontaktujte nás. Naši odborníci se s vámi spojí.

Formulář se načítá…

/ 4
Další krok:
  • Poptávka
  • Osobní údaje
  • Údaje o společnosti

Pokud chcete získat více informací o zpracování údajů ve společnosti ZEISS, přečtěte si prosím naše oznámení o ochraně osobních údajů.