ZEISS scatterControl

Výjimečná kvalita CT obrazu

Hardwarové řešení pro optimalizovanou kvalitu obrazu

Modul ZEISS scatterControl významně zlepšuje kvalitu obrazu a tím redukuje artefakty rozptylu CT skenů na minimum. Tato vylepšení usnadňují následné zpracování dat a vyhodnocení vhodných dílů, což vede k ještě přesnějšímu určení povrchu a analýze vad. Produkt je ideální pro velkoobjemové a husté součásti, jako jsou aditivně vyráběné kovové díly a hliníkové odlitky, včetně těch s ocelovými vložkami, a také pro další sestavy obsahující hustší materiály.

Modul je k dispozici pro ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, a to buď jako řešení retrofit nebo jako součást nákupu nového systému. Upgradujte nyní váš systém pomocí modulu ZEISS scatterControl a využijte vynikající kvalitu obrazu pro mnohem snadnější vyhodnocování dat.

Lepší kvalita obrazu, lepší detekce vad

ZEISS scatterControl významně zlepšuje kvalitu CT obrazu tím, že snižuje výskyt artefaktů způsobených rozptýleným zářením. Zvyšuje se kontrast mezi jednotlivými komponentami a zjednodušuje se detekce defektů: Nyní lze analyzovat oblasti součástí, které bylo dříve téměř nemožné posoudit.
Zlepšené určování povrchu

ZEISS scatterControl napomáhá nejen detekci defektů, ale i celkové kvalitě určení povrchu. To je značná výhoda pro metrologické aplikace na náročných dílech, kde nekorigované artefakty narušují určování povrchu.
Rychlé skenování v režimu VAST

ZEISS scatterControl pracuje jak v režimu ‘Stop and Go’, tak v režimu VAST. Řešení scatterControl poskytuje vynikající kvalitu obrazu pro CT s kuželovým paprskem, která je srovnatelná s kvalitou CT s vějířovým paprskem – ale s až 1000× kratší dobou skenování.
Snadné použití

ZEISS scatterControl je řešení na jedno kliknutí. Modul bez problémů spolupracuje s dalšími užitečnými funkcemi systému METROTOM OS, jako je VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) nebo VolumeMerge, a je plně integrován do softwaru.

ZEISS scatterControl pro lepší analýzu defektů

ZEISS scatterControl výrazně zlepšuje kvalitu obrazu CT skenů pro různé součásti a průmyslová odvětví. Je to díky účinnému odstranění artefaktů až po umístění modulu vzhledem k součásti, proto je ZEISS scatterControl ideální volbou. Dále se dozvíte, jak můžete modul využít pro vynikající detekci a analýzu vad.

Redukce artefaktů pro lepší kvalitu CT obrazu

ZEISS scatterControl přináší zřetelný rozdíl. Pomocí posuvníku můžete porovnat kvalitu rentgenového obrazu, které lze dosáhnout s modulem scatterControl a bez něj. Vylepšený obraz vykazuje vyšší kontrast a méně artefaktů, díky čemuž mnohem jasněji vyniknou detaily.

Vynikající kvalita díky umístění modulu

ZEISS scatterControl dosahuje ve srovnání s podobnými produkty vynikající kvality díky funkčnímu principu modulu: Modul je umístěn mezi trubicí a detektorem. Menší objekty, jako jsou husté aditivně vyráběné díly, lze umístit před modul, větší objekty za něj. Obojí funguje dokonale. Kromě toho vestavěný fyzikální senzor kolize a sofistikovaný software pro předvídání kolizí účinně zabraňují kolizím.

Vhodný pro různé díly a odvětví

Odlévání kovů: Masivní hliníkové nebo hořčíkové díly, i s ocelovými vložkami.
Automobilový průmysl: Odlitky s ocelovými vložkami, výkonová elektronika
Aditivní výroba: Husté kovové tištěné díly

Vylepšená 3D kontrola

Zlepšení na objemových datech zajišťuje mnohem snadnější vyhodnocování. 3D povrchy lze určit a vykreslit bez rušivých artefaktů. Mnoho artefaktů je obvykle důsledkem rozptýleného záření a způsobuje pseudopovrchy ve 3D, které brání přesnému měření.

Spolehlivý vyhodnocovací software pro rentgenovou kontrolu

Software ZEISS Automated Defect Detection (ZADD) spolehlivě odhalí i ty nejmenší vady u vstřikovaných dílů, lékařských, aditivně vyráběných součástí a dalších.

Zjistěte více

Mezi součásti, které nejvíce využijí ZEISS scatterControl, patří masivní hliníkové nebo hořčíkové díly, odlitky s ocelovými vložkami, výkonová elektronika a také husté tištěné kovové díly, abychom uvedli jen několik příkladů.
ZEISS scatterControl je řešení na jedno kliknutí. Softwarová a hardwarová ochrana proti kolizi je již integrována, což znamená, že bez dalších kroků můžete zahájit proces skenování.
Ano, ZEISS scatterControl je ideálním řešením pro retrofit zařízení ZEISS METROTOM 1500 G3. Pro vylepšení vašeho CT systému pomocí modulu scatterControl mohou být nutné aktualizace, například pro METROTOM OS.

Kontaktujte nás

Máte zájem dozvědět se více o našich produktech nebo službách? Velmi rádi vám poskytneme další informace nebo živou ukázku – online nebo osobně.

ZEISS Metrology Shop

Snadné objednávání snímačů, měřicího příslušenství a dalších položek

ZEISS Metrology Portal

Získáte přístup k celé škále systémů a softwarových služeb

ZEISS Academy Metrology

Vaše personalizované metrologické školení, dostupné v různých formátech

Potřebujete další informace?

Kontaktujte nás. Naši odborníci se s vámi spojí.

Formulář se načítá…

Další krok:

Poptávka
Osobní údaje
Údaje o společnosti

Pokud chcete získat více informací o zpracování údajů ve společnosti ZEISS, přečtěte si prosím naše oznámení o ochraně osobních údajů.

ZEISS scatterControl

Hardwarové řešení pro optimalizovanou kvalitu obrazu

Jaké výhody vám přináší ZEISS scatterControl

Lepší kvalita obrazu, lepší detekce vad

Zlepšené určování povrchu

Rychlé skenování v režimu VAST

Snadné použití

ZEISS scatterControl pro lepší analýzu defektů