Propojená mikroskopie.

Urychlete své rozhodování.

Řada průmyslové mikroskopie

170 let zkušeností a nesrovnatelné možnosti zpracování dat ze všech zařízení: díky komplexnímu portfoliu propojených řešení orientovaných na konkrétní aplikace v průmyslové mikroskopii Vám ZEISS pomůže vyčíst z dat užitečné informace a urychlit tak správné rozhodování.

Brožura
Kontaktujte nás

Od mikrometru k nanometru

ZEISS nabízí unikátní komplexní portfolio všech typů mikroskopů pro průmyslové aplikace. Spolu s korelovatelnými daty z různých mikroskopických technologií a se softwarem ZEN core orientovaným na postup má zákazník k dispozici kompletní a ucelený systém řešení, který může nabídnout pouze ZEISS.

Zvýšení produktivity díky analýze obrazu

Zpracování dat v různých dimenzích

Svou řadou průmyslových mikroskopů podporuje společnost ZEISS své zákazníky při konzistentním získávání, řízení a využívání dat v prostředích využívaných více uživateli, více odděleními a prostřednictvím různých typů mikroskopů.

Tím je umožněn provoz nezávislý na uživateli, jakož i analýza trendů a hlubší vhled při porovnání výsledků v různých dimenzích, různými metodami a prostřednictvím sdílení dat. Výsledek: vyšší produktivita a jistota v aplikacích průmyslové mikroskopie.

  • Vhodné/nevhodné pro vizuální kontrolu
  • Identifikujte závady a neshody a stanovte jejich hlavní příčinu
  • Určete drsnost a topografii
  • Sledujte kontaminaci různými částicemi
  • Identifikujte odchylky kritických geometrických rozměrů

Inteligentní zpracování dat

pro připojenou mikroskopii

Unifikované uživatelské rozhraní jádra ZEN umožňuje uživatelům pracovat stejným způsobem s různými mikroskopy, od stereoskopických mikroskopů až po plně automatizované špičkové aplikace. Výkonný software umožňuje korelaci světelné a elektronové mikroskopie v multimodálních pracovních procesech a poskytuje propojení mezi systémy, odděleními a pobočkami. Jádro ZEN zvládá víc než jen mikroskopické zobrazení. Je nejrozsáhlejší sadou nástrojů pro zobrazování, segmentaci, analýzu a propojení dat v rámci multimodální mikroskopie v propojených laboratořích zkoumajících materiály.

Get to know our microscopy software suite!
Orientace na pracovní postup

ZEN core umožňuje postupově orientované zajištění kvality pro mikroskopické aplikace prostřednictvím
specializovaných softwarových modulů pro aplikační oblasti, jako jsou analýza technické čistoty a šablony úloh pro automatickou kvantifikaci obrazu.

ZEISS ZEN core
Mobilní přístup

Průzkumník dat ZEN umožňuje přístup ke všem datům v centrálním datovém úložišti ZEN z jakéhokoli místa prostřednictvím mobilního zařízení nebo prohlížeče.

ZEISS ZEN core
Spolehlivé úložiště dat

Centrální databáze pro bezpečné zpracování dat a dokumentaci nabízí škálovatelné řešení centrálního úložiště pro výsledky, metody a šablony.

ZEISS ZEN core
Korelace a konektivita

Díky výstupu korelovaných dat umožňuje ZEN core rychlé a snadné přemístění oblastí zájmu pro různé zobrazovací metody a mikroskopické technologie.

Více informací
Import třetích stran

Uživatelé mohou integrovat a zpracovávat obrazy třetích stran, a to i z mikroskopů jiných výrobců.

Aplikace pro systémy průmyslové mikroskopie

Procesně orientovaná řešení pro efektivní analýzu kvality

ZEISS dodává velmi širokou škálu řešení pro průmyslové aplikace v různých průmyslových segmentech: elektronika, automobilový a letecký průmysl, lékařská zařízení a aditivní výroba. S naším komplexním portfoliem mikroskopů a s cílenými softwarovými řešeními se staneme vašimi partnery při řešení specifických technologických problémů, pro zdokonalení vašich procesů a minimalizaci času do získání výsledku. S našimi unikátními světelnými, rentgenovými a elektronovými mikroskopickými systémy dosáhnete vysoké kvality zobrazování.

Metalografická analýza defektů

Zjištění příčiny defektu

Požadavek

Metalografie odhaluje vnitřní strukturu materiálů. V případě nesrovnalostí je nutné zjistit, analyzovat a dokumentovat poruchu, aby byla určena příčina defektu.

Výhoda produktů ZEISS

Kratší čas k dosažení výsledku díky procesně orientovanému softwaru a korelaci výsledků se ZEN core.

Vizuální kontrola

Rychlá a reprodukovatelná

Požadavek

Optická kontrola umožňuje výrobcům zachytit a eliminovat chyby hned, když se objeví. Předpokladem jsou rychlé a reprodukovatelné obrazy a spolehlivá dokumentace ve výrobě a v odděleních kvality.

Výhoda produktů ZEISS

ZEISS nabízí správné mikroskopické řešení pro každou kontrolní aplikaci: světelné, skenovací elektronové a rentgenové mikroskopy.

Optické měření

Přesná měřicí technika v mikroskopickém měřítku

Požadavek

S pokrokem výrobní technologie mohou výrobní nástroje vytvářet na obrobcích prvky s velmi úzkými tolerancemi. Pro zajištění kvality takových produktů a komponentů musí výrobci měřit v rozměrech menších, než dokáže vnímat lidské oko.

Výhoda produktů ZEISS

Bezkonkurenční zkušenosti společnosti ZEISS v oblasti mikroskopie a její rozsáhlé metrologické know-how zajišťují přesné výsledky v širokém spektru různých typů mikroskopů.

Charakterizace povrchu

3D topografie a drsnost

Požadavek

U povrchů s povrchovou úpravou a funkčních povrchů se složitou geometrií je třeba s maximální přesností prozkoumat drsnost a trojrozměrnou topografii.

Výhoda produktů ZEISS

Podle požadavků dané aplikace nabízí ZEISS kromě špičkových mikroskopických řešení, jako jsou ZEISS LSM 900 MAT a ZEISS Smartproof 5, také možnost dotykového měření.

Více informací

Analýza částic

Spolehlivé zajištění kvality pro technickou čistotu

Požadavek

Čistota součástí a dílů je velmi důležitá ve většině průmyslových výrobních procesů. Nezjištěná kontaminace částicemi může ovlivnit funkčnost, životnost a spolehlivost koncových produktů.

Výhoda produktů ZEISS

Produkty ZEISS vám umožňují informovaná rozhodnutí o příčině kontaminace.

Více informací

Potřebujete více informací o řešení mikroskopie ZEISS?

Vyplňte formulář níže a stáhněte si naši brožuru.

Mikroskopická řešení ZEISS

Rozhovor s našimi odborníky

Přečtěte si článek

Rentgenová tomografie ZEISS

Zjistěte více o našich řešeních s využitím počítačové tomografie.

Více informací