Back To Top

Zobrazení dynamických reportů

ZEISS PiWeb Module Monitor

Modul Monitor je výkonný a zároveň má snadné ovládání. Produktově specifické a obecné reporty vám zajišťují přístup k datům kdykoli a z jakéhokoli místa. Dynamické reporty vám umožňují analyzovat relevantní data přímo během výrobního procesu.

Stáhnout nebo objednat informace

Kontaktujte nás

Monitor

  • Sledování dat kvality a řízení procesu v reálném čase
  • Snadná navigace ve všech naměřených datech (detailní stránky pro analýzu dat, oddělení a seskupení pro shlukovou analýzu)
  • Snadný přístup ke všem důležitým statistickým veličinám a výpočtům
  • Interaktivní CAD zobrazení
  • Vyšetřování způsobilosti měřidel jako např. Gage R&R a montážní analýza

Dynamický a interaktivní

Monitor může ihned vyvolat nejaktuálnější naměřená data z vašeho serveru ZEISS PiWeb Modul. Všechny grafy a vyhodnocení zobrazují okamžitě nová data. Monitor umožňuje pouhým jedním kliknutím získat důležité statistické veličiny a detailní analýzy za účelem detailní analýzy měření. Je možné snadno procházet velkým množstvím reportů díky propojení reportů a stránek.

Detailní stránky

Detailní stránky vám umožňují podrobnější vyhodnocení odchylek od tolerance a variability procesu. Integrované detailní stránky se dají rozšířit o další vlastní detailní stránky.

Statistika

Pro podrobné vyhodnocení naměřených výsledků jsou k dispozici všechny běžné statistické parametry: minimum, maximum, střední hodnota, směrodatná odchylka a hodnoty cp, cpk. Tyto parametry mohou být zobrazeny buď přímo v měřicím reportu, nebo jsou ukázány po kliknutí na některý graf.

Způsobilost měřidel (opakovatelnost a reprodukovatelnost)

Proces měření je stejně jako výrobní proces ovlivňován různými faktory.

ZEISS PiWeb vám pro vyhodnocení přesnosti měřicího procesu poskytuje analýzu měřicího systému typu I, II a III. S výstižnými grafy a potřebnými statistickými parametry (metoda založená na průměru a rozpětí, resp. metoda analýzy rozptylu ANOVA) lze snadno provádět takovéto analýzy měřicího systému pomocí ZEISS PiWeb. Interaktivní ruční zadání usnadňuje sběr potřebných dat.

CAD

Monitor může ukázat výsledky měření přímo na CAD modelu. CAD modely zůstávají stále interaktivní, takže i v hotovém reportu mohou být otáčeny, škálovány a posouvány.

ZEISS PiWeb podporuje také vyhodnocení dat mračen bodů získaných z optických měření, například ve formátu G3D.

Interaktivní ruční zadávání

I dnes se musí mnoho měřených hodnot získávat pomocí ručních měřidel. Monitor usnadňuje tento postup tím, že naměřené hodnoty můžete zadávat přímo do reportu. Vstupní masky eliminují chybné zadání. Kontrolor má přímou grafickou zpětnou vazbu o porušení tolerančních a výstražných mezí.

 

Na této webové stránce používáme cookies. Cookies jsou malé textové soubory, ukládané webovými stránkami na vašem počítači. Cookies jsou široce rozšířené a pomáhají stránky optimalizovaně prohlížet a zlepšit. Používáním naší stránky prohlašujete, že jste s tím srozuměni. více

OK